介質(zhì)損耗測試儀是一種先進(jìn)的測量介質(zhì)損耗(tgδ)和電容容量(Cx)的儀器,用于工頻高壓下,測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗,(tgδ)和電容容量(Cx)它淘汰了 QS 高壓電橋,具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓、抗干擾能力強(qiáng)、測試時間(在國內(nèi)同類產(chǎn)品中速度*快)等特點。體積小、重量輕是我公司的**代抗干擾介質(zhì)損耗測試儀。 介質(zhì)損耗測試儀主要技術(shù)指標(biāo) 1、環(huán)境溫度:0 ~ 40℃(液晶屏應(yīng)避免長時日照) 2、相對濕度:30% ~ 70% 3、供電電源:電壓:220V±10%、頻率:50±1Hz 4、外形尺寸:長×寬×高 500mm×300mm×400mm 5、重量: 約18Kg 6、輸出功率:0.6KVA 7、顯示分辯率:3位、4位(內(nèi)部全是6位) 8、測量范圍及輸出電壓選擇: 介質(zhì)損耗(tgδ):±0.00~±999% 試品電容容量(Cx)和加載電壓: 2.5KV檔:≤300nF(300000pF) 3KV檔:≤200nF(200000pF) 5KV檔:≤76nF(76000pF) 7.5KV檔:≤34nF(34000pF) 10KV檔:≤20nF(20000pF) 9、基本測量誤差: 介質(zhì)損耗(tgδ):1%±7個字(加載電流20uA~500mA) 介質(zhì)損耗(tgδ):2%±9個字(加載電流5uA~20uA) 電容容量(Cx):1.5%±1.5pF